| 000 | 00752nam a2200217Ia 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 008 | 150322s9999 xx 000 0 und d | ||
| 082 | 0 | 4 | _a548.83 R615c 1992 |
| 100 | 1 | _aRius, Jordi. | |
| 245 | 1 | 0 |
_aCaracterización de materiales : _bavances teóricos y experimentales de la metodología de la difracción / _cJordi Rius, J. Francese Piniella, Carles Miravitlles. |
| 250 | _a1a. ed. | ||
| 260 |
_aMadrid : _bCSIC, _c1992. |
||
| 300 | _a254 p. | ||
| 490 | 0 |
_aColección Textos Universitarios ; _vNº 21 |
|
| 590 | _aOTRCA-OTR. | ||
| 591 | _aLibros Colección General. | ||
| 650 | 4 |
_aCRISTALOGRAFIA _xCONGRESOS. |
|
| 650 | 4 | _aDIFRACCION DE RAYOS X. | |
| 700 | 1 | _aMiravitlles, Carles. | |
| 700 | 1 | _aPiniella, J. Francese. | |
| 942 |
_2ddc _cLBCG |
||
| 999 |
_c13368 _d13368 |
||